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8V182512IDGGREP(TI) - 南皇電子|電子元器件代理
圖片信息
8V182512IDGGREP圖片
基本資料:
  • 零件型號:8V182512IDGGREP
  • 制造廠商:TI
  • 技術規格:IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
  • 功能類別:邏輯 - 專用邏輯
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  • 技術參數詳情:
  • 製造商產品型號:8V182512IDGGREP
  • 製造商:Texas Instruments
  • 描述:IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
  • 產品系列:邏輯 - 專用邏輯
  • 包裝:卷帶(TR),剪切帶(CT)
  • 系列:-
  • 零件狀態:有源
  • 邏輯類型:ABT 掃描測試設備,帶通用匯流排收發器
  • 供電電壓:2.7V ~ 3.6V
  • 位數:18
  • 工作溫度:-40°C ~ 85°C
  • 安裝類型:表面貼裝型
  • 產品封裝:64-TFSOP(0.240,6.10mm 寬)
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